高精度OCXO助陣 LTE量測儀器可靠性大增

作者: 編輯部
2013 年 10 月 19 日
LTE蓬勃發展連帶使得OCXO重要性與日俱增。因應長程演進計畫(LTE)測試項目愈來愈複雜,量測設備製造商無不推出全新綜合無線通訊分析儀,並改採物理特性更穩定且抗老化程度更佳的恆溫槽控制石英晶體振盪器(OCXO),進一步提升LTE測試精準度與可靠性。
》想看更多內容?快來【免費加入會員】【登入會員】,享受更多閱讀文章的權限喔!
標籤
相關文章

密鑰管理把關安全通訊協定 SRTP封包架構提升加密套件互通性

2007 年 06 月 29 日

搭配模型基礎設計工具 FPGA SoC加速馬達開發

2015 年 04 月 18 日

克服正負電壓設計難題 觸發雙向可控矽妙用多

2016 年 12 月 29 日

壯大企業永續願景 中/低壓開關設備與時俱進

2021 年 04 月 12 日

自動量測精準分析先進製程參數 TEM量測助2nm製程不卡關

2023 年 04 月 20 日

超導數位技術變革AI/ML發展 實現運算設備用電永續(3)

2024 年 10 月 04 日
前一篇
GPU整合手勢辨識技術 ARM陣營再出擊
下一篇
光耦合器隔離功能發威 SPI /CAN匯流排資料不漏失